Caratterizzazione dei materiali presso i laboratori ENEA. Utilizzo della microscopia elettronica a scansione per la determinazione della nano-morfologia e dell’analisi EDX per il calcolo della stechiometria chimica effettiva. Lo strumenti utilizzato è il SEM-FEG Gemini LEO 1530.
![](http://www.olimposproject.it/wp-content/uploads/2019/03/caratterizzazione-1024x710.jpg)
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